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东方中科 JC-CV-IV 薄膜器件电学特性测量系统

产品型号:
JC-CV-IV
产品名称:
薄膜器件电学特性测量系统
厂商名称:
东方中科(oimec)
产品属性:
主机
JC-CV-IV薄膜器件电学特性测量系统可实现薄膜器件的C-V,I-V特性曲线自动测量和数据存取。C-V测试:是通过高精度源表提供偏置电压,在单一频点,通过控制改变源表偏置电压扫描,LCR表进行测试电容C,从而得到C-V 曲线。I-V测试,是通过源表实现电压扫描,同时通过源表测量Id,Ig电流从而得到转移特性和输出特性曲线。

JC-CV-IV薄膜器件电学特性测量系统也可以应用于场效应管的I-V特性曲线的测量。

JC-CV-IV薄膜器件电学特性测量系统

JC-CV-IV薄膜器件电学特性测量系统
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