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深圳证券交易所

股票代码:002819

股票代码

SZ002819

400-650-5566

SENTECH SE800adv-PV 紫外/可见光光谱椭偏仪

sentech SE800adv-PV 紫外/可见光光谱椭偏仪
  SENTECH紫外/可见光/近红外光谱椭偏仪SE 800针对太阳能电池应用,可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层(二层或多层)减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。
  针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于最佳的椭偏光路设计,高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件,可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数,光学带宽等。

·快速、精确的椭偏测量与分析
·光谱范围宽达300nm-930nm
·步进扫描分析器(SSA)测量模式,提高信噪比
·宽带超消色差补偿器,用于去极化效应修正
·起偏器跟踪技术,计算机控制起偏器角度
·SpectraRay II-功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
·对专家和初学者同样易于操作
·SENTECH专有的材料数据库和样品应用程序,方便有效地建模
·SpectraRay复杂软件光谱椭偏分析包含复杂多角度、多样品数据分析,可编程用户接口和先进的报告

光谱范围:

300 nm - 930 nm UV-VIS

光滑样品表面
240-930nm

样品尺寸:

可放置156 x 156 mm,200 x 200 mm电池片,或其它尺寸

衬底:

透明、半透明,非透明衬底

光学和机械部分:

椭偏操作原理:

结合PSA PCSA 二种模式:
P: 起偏器
C: 补偿器 (超-消色差)
S: 样品
A: 步进扫描分析器

光源:

稳定75W 氙弧灯提供UV/VIS光谱
寿命:超过1000小时

起偏器 / 分析器:

UV Glan Thompson 晶体

计算机控制检偏器和起偏器

消光比:

10-6

测量光斑:

手动可调直径范围1 mm -- 4 mm

选件:200 μ 微光斑

探测系统

高灵敏度CCD

样品台:

高度和水平独立精密调整

样品对准:

自动对准显微镜和光学显微镜适用于最准确的样品对准(聚焦和水平调整)

选件:
CCD 像机,
推荐用于硅太阳能电池测量

测量时间:

全ψ / Δ 谱:
典型时间: < 10 s

控制器:

模块化单元带桌面椭偏光学透镜和量角器
分立的19”机架包含光源, 椭偏仪控制器,带电路板和微控制器单元,光度计

计算机:

HP台式PC机,
17” TFT-FPD显示器, 键盘, 鼠标, Windows XP 操作系统

功率需求:

额定电压:115/230 VAC
自动选择 (100-132 VAC or 207-264 VAC),
额定频率: 50-60 Hz,
额定功率: 350 W.

环境:

普通光学实验室环境,也可用于百级洁净室,不引入污染

数据采集和分析软件:

光谱测量

SPECTRARAY II操作与分析软件包括:

  • 系统校准
  • 自动设置光学组件
  • 手动执行用户定义的任务
  • 光谱以标准能量(波数、电子伏特)或者波长单位显示
  • 样品响应的逼真监视,在线的ψ和△表述

数据处理:

·SPECTRARAY II包括GRAMS软件包,可操作FT-IR系统和处理光谱数据

·输入/输出:ASCII,CSV,SPC,其他光谱设备
·数学运算

文件管理功能:

软件基于Windows XP平台,提供全面的文件管理功能

用户定义界面:

基于易用的源程序代码,用户可方便地定义测量、操作界面

Accuracy / performance精度/性能

准确度:

δ(Psi): 0.02 °
δ(Delta): 0.04°
(for at least 90% of all wavelength)

常见选件

SE 800-2

计算机控制角度, 精度 0.01°

SE 800-3

微光斑选项, 200μm 光斑直径,UV/VIS

SE800-61

视频显示器用于对准、帧抓取、微区光斑

SE 800-50

光谱扩展到近红外1700 nm

SE-800-NIR

改善近红外光谱到2500 nm

SE 800-15

Mapping样品台, x = 150 mm, y = 150 mm , (带真空吸附) 带快速扫描软件

SE 800-16

Mapping样品台,x = 200 mm, y = 200 mm,(带真空吸附)带快速扫描软件

SE800-51

另一套软件SpectraRayⅡ

SE 800-30

膜厚探针FTPadvanced

SE 400-K100

标准片100mm直径,SiO2 on Si, 额定膜厚100 nm, 有校准证书

SE 400-K80

标准片100mm直径, SiN on Si, 额定膜厚80 nm, 有校准证书

SE800 PV应用报告(晶硅电池减反膜,薄膜电池TCO膜,PIN多层膜测量报告)请致电400- 650-5566或邮件索取。

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