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股票代码:002819

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SZ002819

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SENTECH SENPRO UV/VIS/NIR光谱椭偏仪

sentech SENPRO UV/VIS/NIR光谱椭偏仪

  低价位光谱椭偏仪,用于在UV/VIS / NIR光谱范围测量薄膜厚度及其折射率
  SenPro椭偏仪是新一代低价位光谱椭偏仪,以快速测量、使用简易和对样品操作为特性。
  SenPro能够测量单层薄膜的厚度和折射率。

规格
光谱范围 250 nm ... 900 nm
测量时间 单点测量时间40 μs, 全光谱测量时间20 ms
可变入射角度 45, 50, 55, 60, 65, 70, 90 deg
载物台 可调节高度和倾斜度的载物台,手动25 mm x-y 方向移动
光源 Xe弧光灯
分光计 扫描式单色仪
软件 光谱椭偏仪软件,支持测量、建模、拟合椭偏光谱,材料库,protocol功能,输出数据
计算机 USB 接口连接 PC,包含PC、WindowsXP操作系统
电源需求 115/ 230 V, 50 / 60 Hz
尺寸 850 mm x 400 mm x 300 mm
重量 35 kg
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